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Beyond Inspection

Towards Innovation

빛으로는 볼 수 없는 세계, 초음파로 열어갑니다

정밀함으로 산업의 신뢰를 형성하다

반도체 웨이퍼
Semiconductor Wafer
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전력 반도체
Power Semiconductor
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전기/전자 부품
Electrical & Electronic Components
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이차 전지
Secondary Battery
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복합 소재
Composite Material
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신뢰를 이어가고, 기술로 응답합니다

  • 기술 보기

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    주사 음향 현미경(Scanning Acoustic Microscopy, SAM)은 초음파를 이용해 재료의 내부를 고해상도로 관찰할 수 있는 장비입니다.

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    오시는 길

    48513 부산광역시 남구 용소로 45 부경대학교 대연캠퍼스 웅비관 1225호

  • 고객지원

    고객지원

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